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Aperçu gratuit du livre Advances in X-Ray Analysis: Volume 32

Advances in X-Ray Analysis: Volume 32

Édition : Charles S Barrett , J V Gilfrich , Ron Jenkins
18 juin 2013
285,95 $
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
682
Publié par: Springer US
Dimensions à l’expédition: 10" H x 7" W x 1" L
ISBN: 9781475791129
Étape de vie: null

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Évaluation éditoriale

charles s barrett

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