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Aperçu gratuit du livre Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring And Compensating Electrostatic Forces

Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring And Compensating Electrostatic Forces

Sascha Sadewasser Édition : Thilo Glatzel
30 novembre 2013
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
334
Springer Series in Surface Sciences
Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9783642271137
Étape de vie: null

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thilo glatzel

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