Measurement System Error Analysis: Analyzing and Reducing Measurement Errors In Test Systems

Mike Peralta
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Measurement System Error Analysis: Analyzing and Reducing Measurement Errors In Test Systems

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208 PAGESENGLISH

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  • Date de publication : Feb 15, 2012
  • Langue : English
  • Nombre de pages : 208
  • Éditeur : Createspace Independent Publishing Platform
  • ISBN : 9781470054052
  • Dimensions : 8.5" W x 0.44" L x 11.02" H
This book was developed by Mike Peralta (Ph.D.), Semiconductor Device Modeling Engineer. His main research interest has been in the statistics of semiconductor devices. Before his position as Device Modeling Engineer (1997-2006 at Burr-Brown/Texas Instruments) he was with the Quality Department at Burr-Brown from 1982 to 1997 where he was involved with test development, statistical training, design of experiments training, test statistics development and training, and mathematical and database software development. (Burr-Brown merged with Texas Instruments in 2000.) From 2006 to 2012 he has been with Medtronic in Tempe, Arizona - also as a Semiconductor Device Modeling Engineer where he has continued to help model semiconductor models as well as developing high precision mismatch characterization and modeling techniques. Mike holds a Ph.D. in Physics (1999) from the University of Arizona. He also holds a B.S. in Math/Statistics (1990), a B.S. in Physics (1990), and a B.S.E.E.(1985), all from the University of Arizona.

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